Un equipo internacional, con participación de científicos de la Universidad de Santiago de Compostela, ha logrado observar con gran precisión enlaces químicos de moléculas individuales gracias a la microscopía de fuerza atómica. Según el estudio, la capacidad de medir la fuerza y la longitud de los enlaces será una herramienta útil en nanociencia y nanotecnología.
El nuevo método está basado en la microscopía de fuerza atómica y permite observar la longitud y la fuerza de los enlaces de diferentes moléculas. Imagen: IBM Research Zurich
Una investigación de la Universidad de Santiago de Compostela (USC), en colaboración con el IBM Research-Zurich (Suiza) y el Centro Nacional de Investigación Científica de Tolouse (Francia), ha permitido desarrollar una técnica para distinguir enlaces químicos individuales. El método, publicado en la revista Science, está basado en la microscopía de fuerza atómica y permite observar la longitud y la fuerza de los enlaces de diferentes moléculas.
Diego Peña, uno de los autores del estudio, explica a SINC que se trata de “una poderosa herramienta para controlar nuestro entorno en la escala atómica”, y añade que la nueva técnica “permite estudiar con gran precisión los diferentes enlaces dentro de moléculas individuales de determinados hidrocarburos policíclicos aromáticos (PAHs) y nanografenos adsorbidos sobre diferentes superficies”.
Además, el investigador dice que estos enlaces entre átomos “muestran pequeñas diferencias en función de la estructura global de la molécula. Pequeñas diferencias que tienen un gran impacto en sus propiedades optoelectrónicas y químicas”.
Los miembros españoles del equipo, Diego Peña, Alejandro Criado y Enrique Guitián, de la USC, fueron los “encargados de la síntesis de moléculas adecuadas para poder desarrollar la técnica”, en palabras de Peña.
Posibles aplicaciones
Este método permitirá identificar moléculas individuales con gran precisión, y observar su comportamiento químico y físico de forma aislada. Para Peña, “la técnica ayudará a fabricar dispositivos electrónicos basados en el grafeno. Pero como suele ocurrir en ciencia, las aplicaciones más espectaculares ni siquiera las podemos prever”.
Junto con este estudio, la revista Science publica también un artículo firmado por el investigador español Rubén Pérez, de la Universidad Autónoma de Madrid, en el que se describe “el contexto científico, los logros del trabajo y sus posibles implicaciones”, en palabras del propio autor para SINC.
Pérez asegura que el estudio “no tiene aplicaciones prácticas directas, pero nos puede ayudar a comprender los fundamentos microscópicos de los procesos que se dan en campos con aplicaciones tecnológicas directas, como la electrónica molecular o la catálisis química”.
Referencia bibliográfica:
Leo Gross, Fabian Mohn, Nikolaj Moll,Bruno Schuler, Alejandro Criado, Enrique Guitián, Diego Peña, André Gourdon, Gerhard Meyer. “Bond-Order Discrimination by Atomic Force Microscopy”. Science Vol. 337, 14 de septiembre de 2012, p. 1326-1329
Artículo publicado en Servicio de Información y Noticias Científicas (SINC).